主辦單位：未來產研
協辦媒體：全球光電科技資訊網、EE Chain電子電機資源網
活動日期：2005年05月11~12日
活動時間：AM 09：40～PM 16：30
活動地點：台北文化大學建國本部 地下二樓
台北市建國南路二段231號 02-2700-58585/11 研討會議程
09:00~09:40 全球數位相機及照相手機市場現況
全球數位相機市場規模分析
數位相機功能現況與未來發展
照相手機功能現況與未來發展 10:40~11:00 影像感測器-CCD
CCD影像感測器市場規模現況
CCD模組小型化現況與未來趨勢
CCD模組耗功率現況與未來 11:00~12:00 影像感測器-CMOS IMAGE SENSOR
CMOS影像感測器市場規模現況
CMOS影像感測器於照相產品應用現況與未來機會
CMOS感光能力提昇現況與趨勢
13:10~14:10 數位照相影像處理晶片
影像處理晶片技術與發展現況
影像處理晶片效能與功能提昇
晶片功能整合現況與未來系統趨勢 14:20~15:20 數位照相
相機用儲存裝置現況
記憶卡標準市場趨勢分析
相機用外接儲存裝置發展機會 15:20~15:40 數位相機顯示面板
數位相機面板應用顯示技術現況
數位相機用顯示面板成本結構分析
數位相機用顯示面板規格需求趨勢
5月12日研討會議程
09:40~10:40 數位照相鏡頭發展現況
數位照相鏡片模組發展現況
鏡片模組材料現況與未來發展
鏡片模組微小化的設計趨勢
主講人：美錡科技蕭金廷 協理
11:00~12:00 鏡片群設計與佈局
相機鏡頭設計觀念講解
鏡片群設計現況與未來趨勢
鏡片群設計考量課題與解決方法
主講人：荻野修司(邀請中)(備有口譯) 13:10~14:10 鏡片設計模擬軟體現況與應用(實做)
鏡片設計模擬軟體現況利用
模擬軟體設計鏡片(實機操作示範)
主講人：中央光電所林貞宏 先生 14:30~15:30 鏡片調芯偏差量測(實做)
現階段鏡片偏芯量檢測的困難
分析穿透式與反射式檢測法應用
分析鏡片雙面量測趨勢與未來發展鏡
片調芯偏差量測(實機操作示範)
主講人：日本KUNOH (備有口譯)
- 新聞稿有效日期，至2005/05/17為止
聯絡人 ：吳怡芬
聯絡電話：0939-304212
電子郵件：even@iw.com.tw
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