新推出的53100A型相位雜訊分析儀專為工程師和研發人員設計。他們的工作高度仰賴對來自5G網路、資料中心、商用及軍用飛機、太空飛行器、通訊衛星和計量測試應用的頻率訊號進行精確測量。這款全新的測試儀器能夠檢測高達200 MHz的射頻訊號，可快速捕獲頻率訊號，並對相位雜訊、頻率抖動、艾倫偏差（ADEV）和時間偏差等進行快速而精確的特性分析。只需一台分析儀和幾分鐘時間，便可對特定頻率的所有屬性進行完整的特性分析。

53100A型相位雜訊分析儀支援多種配置，可用一種參考訊號同時檢測三種不同的待測訊號，測試能力和穩定性均有提升。該設備體積小巧，尺寸僅為344 x 215 x 91毫米（13.5 x 8.5 x 3.6英寸），很容易整合在各種自動測試設備（ATE）系統中，同時具備足夠強大的測量能力，可勝任實驗室級別的計量測試工作。53100A型分析儀的介面向下相容，與Microchip的51xxA系列測試套件共用相同的命令和資料流程，進而大大降低了對現有ATE基礎架構進行重新設計的需求。

53100A型相位雜訊分析儀使用非常靈活，可透過前端面板連結一個頻率標準不同於待測裝置的參考設備，這樣就可以用同一個參考為不同的振盪器做特性分析。可用做參考的設備包括銣原子頻率標準（比如Microchip的8040C-LN）或者石英振盪器（如Microchip的1000C型恒溫晶體振盪器（OCXO）），同時也支援其他廠商的精確振盪器產品。

53100A型相位雜訊分析儀現已上市。Microchip為產品提供技術支援服務和延長保固服務。欲瞭解更多資訊，請聯繫Microchip業務代表、全球授權經銷商或瀏覽Microchip網站。

欲瞭解訂貨資訊，請聯繫Microchip業務代表。完整資訊請瀏覽：https://www.microchip.com/design-centers/clock-and-timing/atomic-clocks

- 新聞稿有效日期，至2020/05/30為止

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