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產業動態 KLA-Tencor推出Candela 7100
萬博宣偉公關 本新聞稿發佈於2008/09/25,由發布之企業承擔內容之立場與責任,與本站無關

KLA-Tencor 公司今日推出Candela 7100 系列,是針對硬碟機基片與碟片的高階缺陷檢查及分類所研發的新一代技術。

 
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美國加州密爾必達 ─ 2008 年 9 月 24 日訊 ─ KLA-Tencor 公司 (NASDAQ:KLAC) 今日推出Candela 7100 系列,是針對硬碟機基片與碟片的高階缺陷檢查及分類所研發的新一代技術。7100 系列延伸了倍受業界肯定且已用於量產的 Candela 系列,可幫助製造商識別並分類各種次微米級 (submicron) 的關鍵缺陷,諸如凹陷、凸起、微粒及隱藏缺陷等,進而最大化良率,降低檢測總成本。

KLA-Tencor 成長與新興市場集團副總裁 Jeff Donnelly 表示:「Candela 7100 系列代表我們在光學表面分析技術上的創新延伸,這是一項具備空前缺陷檢測及分類技術的工具,廣受客戶認同。憑藉著更高的靈敏度和分類能力,7100 系列的多合一解決方案可降低對其他工具的依賴,協助我們的客戶降低成本,更快取得結果。」

硬碟密度的持續成長代表著更高的技術要求,要達到更低的表面污染 (surface contamination) 水準、更平滑的磁片表面、更高靈敏度以滿足較小的缺陷尺寸,在製程早期控制關鍵缺陷也更形重要。此外,隨著讀寫磁頭的機械飛行高度逐漸降低,微小缺陷對良率的衝擊亦隨之提升。Candela 7100 系列具備業界領先的高靈敏度,是一項足以解決上述挑戰的理想解決方案。

硬碟產業必須維持優異的性價比以滿足客戶,因此製造商必須維持成本競爭力、更快取得結果,並採取統計數字上最佳的決策。Candela 7100 降低了對眾多非生產性工具與方法的依賴,諸如原子力、掃描電子與透射電子顯微鏡,以及電性測試。目前需要透過眾多檢測工具才能完成的分析,現在能夠以更快速度和更低成本,完成於單一機台。

Candela 7100 系列正接受儲存科技領導廠商 ─ 日立環球儲存科技 (HGST) 的認證。

KLA-Tencor 已開始接受 Candela 7100 系列的訂單,預計 10 月份開始出貨。

Candela 7100 技術摘要

Candela 7100 系列體現了 KLA-Tencor 對資料儲存市場的持續耕耘,這項創新技術也顯示了 KLA-Tencor 針對下一代圖形化媒體需求的發展腳步。Candela 7100 系列的新功能包括:

• 一個新的雙波長雷射配置,經由最佳化,可達成更高靈敏度、更好的雷射輸出與穩定性,在基於各層的 (layer-based) 功耗模式上,對應用設定有更高靈活性。

• 多個獨立的散射檢測儀,可以檢測並分類多項次微米級缺陷,諸如凹陷、凸起、微粒及隱藏缺陷等。

• 更進步的的相位、光譜與磁通道,在捕捉瑕疵及反映高階垂直錄寫 (PMR) 磁碟表面上,提供了更高的靈敏度與穩定性。

- 新聞稿有效日期,至2008/10/24為止


聯絡人 :徐元貞
聯絡電話:27225779 *637
電子郵件:jenhsu@webershandwick.com

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